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ASTM F 1049-1995 探测硅片表面浅蚀坑的测试方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-05 04:44:05  浏览:9779   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:TestMethodforShallowEtchPitDetectiononSiliconWafers
【原文标准名称】:探测硅片表面浅蚀坑的测试方法
【标准号】:ASTMF1049-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;电子工程;试验
【英文主题词】:testing;silicones;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:H25
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Electromagneticcompatibility(EMC)-Part4-11:testingandmeasurementtechniques-Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytests.
【原文标准名称】:电磁兼容性.第4-11部分:试验和测量技术.电压磁倾角、瞬间干扰及电压变量抗扰性试验
【标准号】:NFC91-004-11/A1-2001
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2001-05-01
【实施或试行日期】:2001-05-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L06
【国际标准分类号】:33_100_20
【页数】:6P;A4
【正文语种】:其他


【英文标准名称】:Informationprocessing.Representationofthe7-bitcodedcharacterseton12-rowpunchedcards.
【原文标准名称】:信息处理.7位编码字符组在12行穿孔卡片上的表示法
【标准号】:NFZ62-130-1970
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1970-09-01
【实施或试行日期】:1970-09-14
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:字符表示;字母数字字符集;ISO7位代码字符集;代码字符集;80列穿孔卡片;ISO7位代码;数据处理;代码;钻削;12行穿孔卡片
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L71
【国际标准分类号】:35_040;35_220_10
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:其他